物理学院“格致•创新”论坛 2019年第五十五期——杜关祥教授

发布日期:2019-11-14 作者:王建波    编辑:瞿磊    来源:物理学院

应物理科学与技术学院与萃英学院邀请,南京邮电大学通信与信息工程学院杜关祥教授来访我院,并做学术报告,届时欢迎广大师生参加!

主讲人:杜关祥教授

题目:毫米波芯片近场高速成像系统研制进展汇报

联系人:王建波

时间:20191119日上午09:00

地点:格致楼3016

摘要:高集成度芯片是我国制造业卡脖子的核心技术。测试在芯片的设计和生产阶段的重要性占比高达30%。尤其是CP(Chip Probing)测试,是芯片封装前可靠性验证的主要环节。随着高频芯片的集成度和复杂度不断提升,多层布线间的信号串扰问题突出且错综复杂,传统CP测试遇到很大的挑战。芯片功能模块之间的距离越来越靠近,特征线宽越来越窄,射频芯片堆叠层数越来越多,层间耦合更加复杂,如何定点分析芯片内部的信号路径,信号完整性,为射频工程师在错综复杂的射频网络中为信号定位,尤为关键。这时候,传统基于网络参数的黑盒子分析技术遇到重重困难,有没有可能发展出基于近场的定位分析测试技术,越来越成为经验丰富的射频芯片工程师的共识。

如何打破国外技术垄断的现状实现芯片设计和测试完全自主国产化?发展全新的测试技术,实现芯片自主化的跨越式发展。南邮智能芯片精密测量实验室建设三年多来,在江苏省和南邮人才计划、江苏省优势学科经费支持下,组建团队,投入800余万元建设了150平方米的净化实验室,潜心最前沿芯片测试技术的开发,于2019年EMC Compo国际会议上首次推出了一种高速芯片近场成像系统,并在IME/EMC上海微波展展出。桌面型原型机有以下几个特点,在芯片CP测试,失效分析、老化测试和快速的IC良品筛查都有广阔的应用前景。团队 已经和华为,中兴微电子等公司开展合作。本报告汇报这一系统的最新研制进展。

简介:杜关祥,男,1980年生,南京邮电大学通信与信息工程学院教授。他于2003年毕业于兰州大学物理科学与技术学院,获物理学士学位。2008年毕业于中科院物理研究所,获凝聚态物理专业博士学位,师从韩秀峰研究员。他先后在日本东北大学、瑞士巴塞尔大学和德国马普生物物理化学研究所从事科研工作。2016年他以海外高层次人才加盟南京邮电大学通信与信息工程学院。杜关祥博士多次获得国际会议奖项,包括:2010 MMM国际会议最佳海报、2011日本磁学会年度论文奖、2014年EFTF国际会议最佳海报奖。他是2013年北京市科技奖一等奖获得者,2015年获得江苏省特聘教授称号,2016年南京邮电大学“鼎山学者”和江苏省第十三批“六大人才高峰”高层次人才,目前担任江苏省Peter Grünberg研究中心副主任。